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高低溫試驗(yàn)箱

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哪些干擾源會(huì)影響鹽霧試驗(yàn)箱的精度

時(shí)間:2021/2/8 9:15:48
 
  用鹽霧試驗(yàn)箱進(jìn)行產(chǎn)品耐腐蝕試驗(yàn)時(shí),由于受干擾信號(hào)較多,導(dǎo)致測(cè)試精度下降。鹽霧試驗(yàn)箱主要干擾源如下:

      一、熱電動(dòng)勢(shì)效應(yīng)。

      這是由電路中各種金屬的接合點(diǎn)、線繞電位器動(dòng)點(diǎn)、電子元器件引線和電路板布線等連接點(diǎn)之間的溫差引起的。

      二、供電設(shè)備電源線的影響。
      因?yàn)榇蟛糠蛀}霧試驗(yàn)箱都使用交流電源供電,交流電網(wǎng)的電壓通常會(huì)有不同程度的波動(dòng),而且電網(wǎng)中的許多電感裝置會(huì)產(chǎn)生頻率污染,主要是工頻(50Hz)和高頻(調(diào)制波)干擾。

      三、電氣類(lèi)型干擾(例如:光源裝置,機(jī)械裝置等)。

      由這些干擾源產(chǎn)生的干擾信號(hào)頻帶帶寬大,強(qiáng)度高,且隨機(jī),干擾性強(qiáng),易受鹽霧試驗(yàn)箱的影響,且不易克服。

      四、無(wú)線電波的影響。

      這種干擾源在經(jīng)過(guò)非線性元件檢測(cè)之后,會(huì)產(chǎn)生電磁波感應(yīng),從而影響鹽霧試驗(yàn)箱的測(cè)試精度。

     上述四種情況即是影響鹽霧試驗(yàn)箱精度的情況。各位要想不影響鹽霧試驗(yàn)箱精度的事故發(fā)生,可一定要注意以上故障產(chǎn)生的原因。
 
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